性能分析IX(ベンチマークと負荷試験)

正しく測るための方法論を扱います。マイクロベンチマークがコンパイラ最適化で計測対象ごと消える罠、協調的欠落(coordinated omission)でテールを見落とす仕組み、クローズドループとオープンループの負荷モデルの違い、周波数スケーリングによる再現性の崩れなど、「その数字は本当に測れているのか」を一次ソースから理解します。