記憶装置の物理 VI(信頼性と誤り訂正)

ビット化けを訂正するECC(SECDED/LDPC)、複数台で冗長化するRAID 0/1/5/6、静かに進行するビット腐敗(bit rot)、状態を報告するSMART、そしてTBW/DWPDという耐久性の指標まで、記憶装置の信頼性と誤り訂正を学びます。